Microscope AFM

Description

Le microscope AFM (ParkSystem NX10) est un microscope atomique de surface polyvalent doté d’un module de changement de pointe spécifique qui permet un alignement unique et reproductible de chaque pointe, pour caractériser  de manière homogène et stable le même échantillon à des stades différents de sa fabrication. Ce microscope est dédié à la caractérisation de surface des matériaux bi-dimensionnels.

Localisation

Centre de Nanosciences et Nanotechnologie (C2N), Palaiseau

Contacts

Responsable plateforme : Abdelkarim OUERGHI

Coordonnateur du projet ciblé associé : Yann LECONTE

Caractéristiques techniques

  • Microscope ParkSystem NX10
  • Mesure AFM en mode contact et non contact faible bruit
  • Mesure KPFM
  • Taille échantillon  maximum : environ 10×10 mm
Upgrade Microscope AFM

Projet ciblé associé

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