Microdiffraction Laue
Description
sur la ligne CRG-IF BM32, l’instrument LaueMAX permet de déterminer à l’échelle de quelques centaines de nanomètre les paramètres structuraux cristallographiques (orientation & paramètres de la maille). La technique utilisée est la diffraction des rayons X en faisceau blanc (diffraction de Laue, polychromatique) résolue spatialement. En routine, la microdiffraction Laue réalise des cartographies 2D des micro et nanostructures (polycristaux, monocristaux, cristal isolé ou en assemblée). Des mesures complémentaires permettent de remonter à la contrainte locale et/ou la cartographie 3D. Les mesures in situ ou operando peuvent être réalisées. Tous les types de matériaux sont mesurables : semiconducteurs, oxydes, métaux etc. (pourvus qu’ils soient cristallisés) pour études fondamentales ou appliquées. Des défauts cristallins étendus (dislocations, sous-grains) peuvent être localisés afin d’être étudier.
En général, la diffraction Laue est une technique d’imagerie similaire à l’EBSD (diffraction électronique rétrodiffusée) de laboratoire, sensible aux cristaux en profondeur, avec une haute résolution angulaire (10-4 rad) permettant la métrologie des plans cristallins. Elle est facile à mettre en œuvre, car ne requière pas de préparation de surface particulière, et permet encore d’obtenir de l’information dans les matériaux très déformés (endommagement plastique). Les cartographies structurales peuvent être combinées à des cartographies chimiques par fluorescence X.
Localisation
ESRF, ligne BM32 CRG-IF
Contacts
Responsable plateforme : Jean-Sébastien MICHA
Coordonnateurs du projet ciblé associé : Etienne BUSTARRET, Nathalie BOUDET
Caractéristiques techniques
- Source : Aimant de courbure
- Caractéristique du faisceau sur l’échantillon : 200×200 nm2 (FWHM), bande passante en énergie (5-23 keV), sensibilité volume cristallisé < 200x200x200 nm³.
- Temps d’acquisition : <1 image/sec
- Détecteur : détecteurs 2D sCMOS de 4 à 9 Mpixels
- Traitement automatisé des données par notebooks et interfaces graphiques
Le détecteur 2D de rayons X enregistre des clichés de diffraction (diagramme de Laue) en chaque point de l’échantillon pour cartographier la microstructure (orientation, paramètres de maille & déformation). En parallèle, des cartographies chimiques (par fluorescence) et optique sont réalisables.
Projet ciblé associé
