Imagerie par ptychographie X
Description
L’un des deux instruments de FAME-PIX (French Absorption spectroscopy beamline in Material and Environmental science – Ptychography Imaging with X-ray) sera dédiée à l’imagerie par ptychographie X. Cet instrument sera ouvert aux utilisateurs en 2026 après la jouvence de l’ensemble de la ligne. L’instrument, en utilisant la cohérence du faisceau de rayons X, permettra d’imager en 2D et 3D un échantillon avec une résolution spatiale bien inférieure à la taille du faisceau (la résolution visée sera de l’ordre de 50nm).
Localisation
ESRF, ligne BM30
Contacts
Responsable plateforme : Jean-Louis HAZEMANN
Coordonnateurs du projet ciblé associé : Etienne BUSTARRET, Nathalie BOUDET
Caractéristiques techniques
- Source : Aimant de courbure
- Eléments optiques principaux :
- 1er miroir collimatant (miroir Si recouvert de Rh),
- monochromateur 2-cristaux (Si220, 1er cristal refroidit à l’azote liquide, 2nd cristal focalisant horizontalement),
- 2nd miroir focalisant (miroir Si recouvert de Rh)
- Eléments optiques secondaires : miroirs en géométrie Kirkpatrick-Baez (miroirs Si recouvert de Pd)
- Caractéristique du faisceau sur l’échantillon : 5×5µm2 (FWHM)
- Détecteur : détecteur rapide 2D
Projet ciblé associé
ESRF
Caractérisation Accélérée par rayons X des Matériaux aux lignes de lumières CRD françaises de l’ESRF