Goniomètre Multi-technique – Réflectivité

Description

Parmi les instruments et les techniques rayons X employés sur la ligne CRG-IF BM32, le goniomètre GMT permet grâce à des mesures de réflectivité de déterminer le profil moyen de densité électronique le long de la normale à la surface d’un spécimen ou bien d’une interface au sein de celui-ci. Un modèle (épaisseurs, rugosités) d’une ou plusieurs couches séparées par des interfaces peut être ajusté au profil expérimental.

Des échantillons en grand nombre (20-200 selon les dimensions) peuvent être montés sur un système chargeur-passeur. Des cassettes multi-logements, pouvant être même préparées à l’avance au laboratoire, sont repositionnables de manière reproductible dans le faisceau X, accélérant la phase d’alignement et permettant des acquisitions automatiques non-supervisées.

Les interfaces solide/air, solide/solide, solide/liquide (petites cellules étanches, empilables) peuvent être caractérisés pour des études sur des systèmes modèles ou appliquées, avec des mesures in situ ou operando. Les mesures sont optimisées à une énergie de 27 keV pour permettre de sonder les interfaces enterrées ou les surfaces plongées en solution.

Caractéristiques techniques

• Source : Aimant de courbure
• Caractéristique du faisceau sur l’échantillon : 700×50µm² (FWHM HxV), flux de l’ordre de 2.10¹¹ photons/s à 27keV.
• Temps d’acquisition d’un spectre de réflectivité : 2-20 minutes
• Détecteur : détecteurs pixel 2D hybride CdTe, Si ; détecteur ponctuel (scintillateur)
• Traitement automatisé des données par Notebooks et scripts Python

ESRF

Caractérisation Accélérée par rayons X des Matériaux aux lignes de lumières CRD françaises de l’ESRF

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