Diffractomètre RX poudre haut-débit
Description
L’appareil sera équipé d’une plateforme échantillons haut débit (high troughput stage, platine porte-échantillons) programmable pour monter des plaques à puits (well-plates) rectangulaire à 24 / 48 / 96 / 192 puits. L’appareil permettra d’enregistrer rapidement un diagramme de poudre afin d’analyser un grand nombre d’échantillons (plage angulaire : 1-60° 2θ ; temps d’acquisition ≤ 1 h). De plus, l’appareil sera utilisable à la fois en réflexion et en transmission. L’appareil sera également équipé d’un logiciel permettant l’identification de phases à l’aide de bibliothèques internes et de bases de données externes (comme la base de données ouverte de cristallographie, COD).
L’appareil permettra également une analyse quasi quantitative des données par cluster et semi-quantitative.
Localisation
24 Rue Lhomond, Paris. École normale supérieure, Département Chimie laboratoire ES-138
Contacts
Responsable plateforme : Iurii DOVGALIUK
Coordonnateur du projet ciblé associé : Christian SERRE
Caractéristiques techniques
- Goniomètre haute résolution (0.0001˚ θ/θ)
- Tube Cuivre CuKα (puissance 2.2 kW)
- Optique convertible Bragg-Brentano (réflexion) et transmission
- Détecteur 1 dimension (1D) pour des enregistrements ultra-rapides de diagrammes de diffraction X avec possibilité de suppression de la fluorescence (résolution 1000 eV)
- Plateforme échantillon «HT» (High Throughput Stage, platine porte-échantillon) programmable pour monter des plaques à puits (well-plates) rectangulaires à 24 et/ou 96 positions à la fois en réflexion et en transmission
- Logiciel capable de faire de l’indentification de phase par l’algorithme “Search- Match” (ou la recherche de phases automatiques et le logiciel de tri statistique inclus base de données Crystallography Open Database, COD) de l’analyse par Cluster (nombre de scans illimités) de l’analyse semi-quantitative utilisant la méthode RIR (Reference Intensity Ratio) et mode DDM (Méthode de Dérivation Directe)
Projet ciblé associé
